Поле | Название | Значение |
|
Тип записи |
a |
|
Библиографический уровень |
b |
001 |
Контрольный номер |
ULGU/FULLTEXT/e158f5848cc4483eb28d2dd3b912c00e |
005 |
Дата корректировки |
20240827115922.7 |
008 |
Кодируемые данные |
240826s2024||||ru||||||||||||||||||rus|d |
040 |
Источник каталогиз. |
__ |
a |
Служба первич. каталог. |
НБ УлГУ |
b |
Код языка каталог. |
rus |
041 |
Код языка издания |
0_ |
a |
Код языка текста |
rus |
h |
Код языка оригинала |
rus |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.3с |
100 |
Автор |
1_ |
a |
Автор |
Приходько, К. Е. |
u |
Дополнение |
Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ" (Москва) |
4 |
Код отношения |
070 |
245 |
Заглавие |
10 |
a |
Заглавие |
Количественный локальный анализ элементного состава материалов методом спектроскопии характеристических потерь энергии электронов в рамках просвечивающей растровой электронной микроскопии в условиях наложения линий характеристических потерь |
336 |
Вид содержания |
__ |
a |
Термин вида содержания |
Текст |
337 |
Средство доступа |
__ |
a |
Термин типа средства |
непосредственный |
500 |
Примечания |
__ |
a |
Примечание |
Материалы XXVIII-го Международного симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника" (Нижний Новгород, 11-15 марта 2024 г.) |
504 |
Библиография |
__ |
a |
Библиография |
Библиогр.: с. 1321-1322 (30 назв.) |
520 |
Аннотация |
0_ |
a |
Аннотация |
Разработан метод обработки спектров характеристических потерь энергии электронов для проведения количественного анализа атомных концентраций элементов в рамках просвечивающей растровой электронной микроскопии в условиях близкого расположения линий различных элементов. |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физические приборы и методы физического эксперимента |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
симпозиумы |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
спектроскопия |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
СХПЭЭ |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
растровая электронная микроскопия |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
линии характеристических потерь |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
наложение линий |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
энергии электронов |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
атомные концентрации элементов |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Дементьева, М. М. |
u |
Дополнение |
Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" (Москва) |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
u |
Дополнение |
Приволжский исследовательский медицинский университет (Нижний Новгород) |
4 |
Код отношения |
070 |
773 |
Источник информации |
18 |
w |
Контрольный № источника |
ULGU/FULLTEXT/ea8881dbf7334722a64fa87cc0b917c4 |
t |
Название источника |
Журнал технической физики |
d |
Место и дата издания |
2024 |
g |
Прочая информация |
№ 8. - С. 1314-1322 |
x |
ISSN |
0044-4642 |
856 |
Электронный адрес документа |
40 |
u |
URL |
https://journals.ioffe.ru/articles/58559 |
901 |
Тип документа |
__ |
t |
Тип документа |
b |
911 |
Журнальная рубрика |
__ |
a |
Журнальная рубрика |
Физические приборы и методы эксперимента |