Поле | Название | Значение |
|
Тип записи |
a |
|
Библиографический уровень |
b |
001 |
Контрольный номер |
ULGU/FULLTEXT/4be54bb2376346ddb7554ff3ca034c7c |
005 |
Дата корректировки |
20240827092227.8 |
008 |
Кодируемые данные |
240826s2024||||ru||||||||||||||||||rus|d |
040 |
Источник каталогиз. |
__ |
a |
Служба первич. каталог. |
НБ УлГУ |
b |
Код языка каталог. |
rus |
041 |
Код языка издания |
0_ |
a |
Код языка текста |
rus |
h |
Код языка оригинала |
rus |
084 |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
__ |
a |
Индекс другой классификации/Индекс ББК |
22.37 |
100 |
Автор |
1_ |
a |
Автор |
Плешков, Р. С. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
245 |
Заглавие |
10 |
a |
Заглавие |
Исследование структурных и отражательных характеристик короткопериодных Mo/Be многослойных рентгеновских зеркал |
336 |
Вид содержания |
__ |
a |
Термин вида содержания |
Текст |
337 |
Средство доступа |
__ |
a |
Термин типа средства |
непосредственный |
500 |
Примечания |
__ |
a |
Примечание |
Материалы XXVIII-го Международного симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника" (Нижний Новгород, 11-15 марта 2024 г.) |
504 |
Библиография |
__ |
a |
Библиография |
Библиогр.: с. 1278-1279 (15 назв.) |
520 |
Аннотация |
0_ |
a |
Аннотация |
Методами рентгеновской рефлектометрии, диффузного рассеяния рентгеновского излучения и интерферометрии исследована серия короткопериодных многослойных зеркал (МЗ) Mo/Be. |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика |
650 |
Тематические рубрики |
14 |
a |
Основная рубрика |
Физика твердого тела. Кристаллография в целом |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
симпозиумы |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
многослойные рентгеновские зеркала |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
рентгеновская рефлектометрия |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
диффузное рассеяние |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
Mo/Be |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
отражательные характеристики |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
структурные параметры |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
синхротронные приложения |
653 |
Ключевые слова |
1_ |
a |
Ключевые слова |
интерферометрия |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Гарахин, C. А. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Глушков, Е. И. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Полковников, В. Н. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Чхало, Е. Д. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
700 |
Другие авторы |
12 |
a |
Другие авторы |
Чхало, Н. И. |
u |
Дополнение |
Институт физики микроструктур РАН (Афонино) |
4 |
Код отношения |
070 |
773 |
Источник информации |
18 |
w |
Контрольный № источника |
ULGU/FULLTEXT/ea8881dbf7334722a64fa87cc0b917c4 |
t |
Название источника |
Журнал технической физики |
d |
Место и дата издания |
2024 |
g |
Прочая информация |
№ 8. - С. 1269-1279 |
x |
ISSN |
0044-4642 |
856 |
Электронный адрес документа |
40 |
u |
URL |
https://journals.ioffe.ru/articles/58554 |
901 |
Тип документа |
__ |
t |
Тип документа |
b |
911 |
Журнальная рубрика |
__ |
a |
Журнальная рубрика |
Физическая электроника |