| Найдено документов - 1 | Источник: Развитие неустойчивости в диоде Бурсиана / В. И. Кузнецов, В. Ю. Коекин, М. А. Захаров, И. К. Морозов. - Текст : непосредственный // Журнал технической физики. - 2024. - № 11. - С. 1809-1819. - ... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
Журнал технической физики. № 11. - Москва, 2024. - URL: https://journals.ioffe.ru/issues/2461.
Ссылка на ресурс: https://journals.ioffe.ru/issues/2461