| Найдено документов - 1 | Источник: Послойный анализ многослойных неоднородных ультратонких пленок с субнанометровым разрешением / А. В. Лубенченко, О. И. Лубенченко, Д. А. Иванов [и др.]. - Текст : непосредственный // Журнал техн... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
Журнал технической физики. № 8. - Москва, 2024. - URL: https://journals.ioffe.ru/issues/2433.
Ссылка на ресурс: https://journals.ioffe.ru/issues/2433