| Найдено документов - 1 | Источник: Метод m-линий при рефлектометрии ультратонких слоев / А. Б. Сотский, Е. А. Чудаков, А. В. Шилов, Л. И. Сотская. - Текст : непосредственный // Журнал технической физики. - 2024. - Т. 94, № 2. - С... | Версия для печати |
Сортировать по:
1. Номер журнала
Журнал технической физики. № 2. - Москва, 2024. - URL: http://journals.ioffe.ru/issues/2356.
Ссылка на ресурс: http://journals.ioffe.ru/issues/2356